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產(chǎn)品中心場發(fā)射掃描電鏡SEM檢測
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相關(guān)文章
發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說明 |
僅形貌觀察 | 每個樣品*20min，超出時間將按照每20min一個樣計算；樣限取5張照片/樣 | / | / |
僅元素分析測試 | EDS元素分析/分布包括：點分析（限3點）；線分析；面分析 | / | / |
形貌觀察和元素分析 | SEM每個樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括； 點分析（限3點）； 線分析；面分析； | / | / |
EBSD | / | / | 制樣收費面議 |
STEM | / | / | / |
冷臺、熱臺、WetSTEM原位觀察 | 需要設(shè)計試驗方案，價格面議。 | / | / |
鍍金 | 鍍層為Au 5nm | / | / |
鍍鉑 | 鍍層為Pt 5nm | / | / |
發(fā)射掃描電鏡SEM相關(guān)檢測
蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma系列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高品質(zhì)的成像和優(yōu)質(zhì)的分析能力，可選配備多種探測器，以滿足顆粒物、納米結(jié)構(gòu)、薄膜樣品等各種不同的應(yīng)用需求。EDS幾何設(shè)計可實現(xiàn)高性能的元素分析，無論哪種樣品適用范圍廣，且均可獲得準確且可重復的分析結(jié)果。
[ 產(chǎn)品特點 ]1. 靈活的探測手段獲取高分辨的圖像2. 智能高效的工作流程3. 高性能的分析系統(tǒng)4. 可擴展拉曼光譜成像5. *的Gemini鏡筒設(shè)計-提升光學性能的同時，降低靜電場與磁場對樣品的影響
日立掃描電鏡
該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究大件，較重，較高的樣品。
▲樣品直徑達300mm?！捎^察范圍直徑達203mm?！蓪Ω哌_110mm的樣品進行觀察和能譜分析。▲通用型接口布局滿足各種分析用途。
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